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  • 薄膜厚度測厚儀的原理和標準
    發布時間:2019/02/25 10:46編輯:賽成科技

    薄膜厚度測厚儀的原理


    將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上51彩票全天计划,與下測量面平行且中心對齊的上測量面。


    以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。


    薄膜厚度測厚儀的標準


    ISO 459351彩票全天计划51彩票全天计划、ISO 534、ASTM D698851彩票全天计划、ASTM F2251、GB/T 667251彩票全天计划、GB/T 451.351彩票全天计划、TAPPI T411、BS 2782-651彩票全天计划、DIN 53370、

    ISO 303451彩票全天计划51彩票全天计划、ISO 9073-251彩票全天计划、ISO 12625-351彩票全天计划、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 654751彩票全天计划、GB/T 24218.251彩票全天计划、FEFCO No 351彩票全天计划、EN 194251彩票全天计划、JIS K625051彩票全天计划、JIS K6783、JIS Z1702

    中國《藥品生產質量管理規范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置)


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