薄膜厚度測厚儀的原理和標準
發布時間:2019/02/25 10:46編輯:賽成科技

薄膜厚度測厚儀的原理


將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面。


以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。


薄膜厚度測厚儀的標準


ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、

ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中國《藥品生產質量管理規范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置)


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